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专利状态
一种三激光相位测距装置
有效
专利申请进度
申请
2023-05-26
授权
2023-12-05
预估到期
2033-05-26
专利基础信息
申请号 CN202321308174.5 申请日 2023-05-26
授权公布号 CN220137388U 授权公告日 2023-12-05
分类号 G01S17/08;G01S7/48;G01S7/481
分类 测量;测试;
申请人名称 深达威科技(广东)股份有限公司
申请人地址 广东省东莞市虎门镇虎门团结路58号
专利法律状态
  • 2023-12-05
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型涉及一种三激光相位测距装置,包括激光发射装置、激光接收处理装置和主控装置;外光路聚焦发射装置和可见光路聚焦发射装置均与主控装置电连接,并且外光路聚焦发射装置和可见光路聚焦发射装置相邻并排设置或者相邻垂直,及其设置且设置在同一轴线上,以及第一滤光片装置设置在外光路聚焦发射装置和可见光路聚焦发射装置的第二侧;激光接收处理装置包括第二滤光装置、接收器、内光路聚焦发射装置和支架装置,支架装置包括容纳区域,以及第二滤光装置和内光路聚焦发射装置均设置在容纳区域内,且第二滤光装置设置在内光路聚焦发射装置的第四侧,以及接收器设置在支架装置的第一侧,以及接收器和主控装置电连接,从而能够提高测量准确度。