基于超像素分割的柜体表面检测方法

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专利状态

基于超像素分割的柜体表面检测方法

有效

专利申请进度

申请

2021-07-28

申请公布

2021-10-19

授权

2024-02-02

预估到期

2041-07-28

专利基础信息

申请号	CN202110856004.X	申请日	2021-07-28
申请公布号	CN113516649A	申请公布日	2021-10-19
授权公布号	CN113516649B	授权公告日	2024-02-02
分类号	G06T7/00;G06T7/11;G06T5/70;G06V10/762
分类	计算；推算；计数;
申请人名称	亿嘉和科技股份有限公司
申请人地址	江苏省南京市雨花台区安德门大街57号5幢1楼至3楼、8楼至12楼

专利法律状态

2024-02-02

授权

状态信息

授权
2021-10-19

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开一种基于超像素分割的柜体表面检测方法，拟合精度高、贴近真实。本发明的柜体表面检测方法，包括如下步骤：（10）纹理图像滤波：将经过配准的柜体表面纹理图像进行高斯滤波；（20）超像素分割：对滤波后的纹理图像超像素分割，计算每个超像素区域的颜色均值，作为该超像素的颜色值；（30）颜色和形状筛选：利用超像素区域与柜体颜色的相似性，将柜体表面的超像素筛选出来；并利用形状紧凑度进一步筛选出属于柜体表面的超像素；（40）平面一致性筛选：对每个候选超像素区域进行平面拟合，对拟合平面进行参数归一化，利用mean‑shift算法获取平面参数聚类中心，以所述聚类中心作为柜体表面法向量。

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