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专利状态
基于模板法的非制冷热像仪无快门非均匀性校正方法
有效
专利申请进度
申请
2012-07-06
申请公布
2012-11-07
授权
2014-05-07
预估到期
2032-07-06
专利基础信息
申请号
CN201210232737.7
申请日
2012-07-06
申请公布号
CN102768071A
申请公布日
2012-11-07
授权公布号
CN102768071B
授权公告日
2014-05-07
分类号
G01J5/00
分类
测量;测试;
申请人名称
武汉高德红外股份有限公司
申请人地址
湖北省武汉市东湖开发区黄龙山南路6号
专利法律状态
2014-05-07
授权
状态信息
授权
2012-12-26
实质审查的生效
状态信息
实质审查的生效IPC(主分类):G01J 5/00申请日:20120706
2012-11-07
公布
状态信息
公开
摘要
本发明涉及基于模板法的非制冷热像仪无快门非均匀性校正方法,按以下步骤进行:首先是计算该热像仪在其工作温度范围内的增益系数;第二步是非均匀性特征模板提取,即获取热像仪在探测器工作温度范围内对均匀场景时的原始图像;第三步是相关系数计算,根据当前探测器工作温度用相对应的模板与当前实时图像计算最佳系数并评价其校正效果;第四步非均匀性校正,对当前的实时图像帧采用新的偏置本底进行非均匀性校正。本发明的方法无需探测器温控系统,无需快门,在实验室中采集不同焦平面温度非均匀性特征偏置本底,根据实时场景,结合偏置本底计算相关系数,进行实时修正图像的非均匀性偏置本底,实现对实时图像的非均匀性校正。
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