一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路及提高良率的方法

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专利状态

一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路及提高良率的方法

有效

专利申请进度

申请

2018-01-12

申请公布

2018-08-17

授权

2020-02-28

预估到期

2038-01-12

专利基础信息

申请号	CN201810031999.4	申请日	2018-01-12
申请公布号	CN108414093A	申请公布日	2018-08-17
授权公布号	CN108414093B	授权公告日	2020-02-28
分类号	G01J5/24;G01J5/10
分类	测量；测试;
申请人名称	武汉高德红外股份有限公司
申请人地址	湖北省武汉市洪山区武汉市东湖开发区黄龙山南路6号

专利法律状态

2020-02-28

授权

状态信息

授权
2018-09-11

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01J 5/24
2018-08-17

公布

状态信息

公开

摘要

本发明公开了一种非制冷红外焦平面探测器的读出电路及提高良率的方法。通过控制模块对有效元电路阵列进行行选通、列积分，并根据有效元电路的故障信号获得替补信号，把相邻行的有效元电阻与故障有效元电阻并联，从而使故障有效元电路正常工作，实现对红外图像的像元的实时修复，进一步，根据盲元或参考元电路的故障信号获得替补信号，将相邻的盲元或参考元电阻与故障的盲元或参考元电阻并联，从而修复盲元电路或参考元电路，解决红外焦平面的列坏线或行坏线的问题。

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