一种三维测量系统、方法及计算机设备

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专利状态

一种三维测量系统、方法及计算机设备

有效

专利申请进度

申请

2020-05-24

申请公布

2020-09-29

授权

2022-10-25

预估到期

2040-05-24

专利基础信息

申请号	CN202010445250.1	申请日	2020-05-24
申请公布号	CN111721236A	申请公布日	2020-09-29
授权公布号	CN111721236B	授权公告日	2022-10-25
分类号	G01B11/25
分类	测量；测试;
申请人名称	奥比中光科技集团股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼

专利法律状态

2022-10-25

授权

状态信息

授权
2020-09-29

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种三维测量系统，包括：投影模组，用于向目标物体投射图像，所述图像包括至少三帧相移条纹图像和一帧散斑图像；采集模组，用于采集相移条纹图像和散斑图像；控制与处理器，用于根据所述相移条纹图像计算各像素点的相对相位，并对散斑图像与预先存储的参考图像进行匹配以获取像素点的第一深度值，根据第一深度值对像素点的相对相位进行解相确定像素点的绝对相位，基于所述绝对相位以确定像素点的第二深度值。本发明通过投射至少三帧相移条纹图像和一帧散斑图像，根据散斑图像获取第一深度值，并利用第一深度值对相移条纹图像的相对相位进行解相以获取更加精确的绝对相位，根据绝对相位计算得到精确的深度值，从而提高测量精度。

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