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专利状态
衍射检测装置、检查设备以及检查系统
有效
专利申请进度
申请
2022-12-30
授权
2024-01-16
预估到期
2032-12-30
专利基础信息
申请号 CN202223585060.3 申请日 2022-12-30
授权公布号 CN220356970U 授权公告日 2024-01-16
分类号 G01N23/20;G01N23/04
分类 测量;测试;
申请人名称 同方威视技术股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
专利法律状态
  • 2024-01-16
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型提供一种衍射检测装置、检查设备及检查系统。衍射检测装置包括支架;衍射辐射源;和衍射辐射检测器,衍射辐射检测器与辐射源限定沿第一方向延伸的检查通道,衍射辐射检测器配置成接收来自检查通道上的被检查对象的经衍射的辐射以便确定导致衍射的物质的特性。支架配置成允许辐射源和衍射辐射检测器能够在支架上跨检查通道沿第二方向移动,第二方向是第一方向的横向。