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专利状态
用于检测辐射图像中的局部异常的网络、方法和装置
有效
专利申请进度
申请
2019-04-18
申请公布
2020-10-30
授权
2024-03-15
预估到期
2039-04-18
专利基础信息
申请号 CN201910315913.5 申请日 2019-04-18
申请公布号 CN111861967A 申请公布日 2020-10-30
授权公布号 CN111861967B 授权公告日 2024-03-15
分类号 G06T7/00;G06V10/75;G06V10/774;G06V10/82;G06N3/0455
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 同方威视技术股份有限公司
申请人地址 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
专利法律状态
  • 2024-03-15
    授权
    状态信息
    授权
  • 2020-10-30
    公布
    状态信息
    公布
摘要
提供了一种用于检测辐射图像中的局部异常的网络,包括重建网络部分和孪生网络部分。重建网络部分包括第一编码网络、生成网络、判别网络和第二编码网络,第一编码网络用于根据原图像生成原图像的本征向量和类别,生成网络用于根据本征向量和类别生成重建图像,第二编码网络用于根据重建图像生成重建图像的本征向量。孪生网络部分基于原图像的本征向量和对应的重建图像的本征向量来判断原图像和重建图像之间的相似性,以确定是否存在局部异常。本发明还提供了对应的训练方法以及利用该网络来检测辐射图像中的局部异常的方法。