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专利状态
一种用于电插锁的老化测试仪
有效
专利申请进度
申请
2021-12-31
授权
2022-06-28
预估到期
2031-12-31
专利基础信息
申请号 CN202123453488.8 申请日 2021-12-31
授权公布号 CN216847975U 授权公告日 2022-06-28
分类号 G01R31/00;G01R31/28
分类 测量;测试;
申请人名称 温州市博克电子有限公司
申请人地址 浙江省温州市瓯海区三溪工业园新棣路8号(第一、二层西首)
专利法律状态
  • 2022-06-28
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型涉及一种用于电插锁的老化测试仪,包括机架,其特征在于:所述机架上固定设有安装板,所述安装板上至少固定有两个电插锁,所述电插锁的一侧设有与电插锁连接的测试仪,本实用新型的有益效果在于:通过设置通孔,在对电插锁进行的锁杆进行开合的时候,方便电插锁的锁杆进行活动,通过设置驱动组件方便带动磁铁固定板远离或者靠近锁杆,从而达到开锁或者闭锁的目的,检测仪将开锁或者闭锁的状态进行检测记录,方便了解电插锁的使用寿命。