红外焦平面阵列动态盲元处理方法及装置

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专利状态

红外焦平面阵列动态盲元处理方法及装置

有效

专利申请进度

申请

2014-11-24

申请公布

2015-02-04

授权

2017-07-18

预估到期

2034-11-24

专利基础信息

申请号	CN201410681305.3	申请日	2014-11-24
申请公布号	CN104330167A	申请公布日	2015-02-04
授权公布号	CN104330167B	授权公告日	2017-07-18
分类号	G01J5/02
分类	测量；测试;
申请人名称	浙江大立科技股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市滨江区滨康路639号

专利法律状态

2017-07-18

授权

状态信息

授权
2015-03-11

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01J5/02；申请日:20141124
2015-02-04

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种红外焦平面阵列动态盲元处理方法及装置，其中方法包括，1)根据红外仪器在其工作范围内的两点校正系数对红外图像进行两点校正，获得校正后的输出图像；2)逐一判断所述输出图像中每一像元的值与该像元相应周围邻域数据的均值的差值是否大于预设阈值，获取包括所有盲元及其对应位置的阈值判断结果，其中，差值大于预设阈值的为盲元；3)根据所述阈值判断结果生成盲元位置表；4)红外仪器每次输出图像时，根据所述盲元位置表通过自适应滤波的方式对输出图像中的盲元进行实时校正。本发明可以实现实时快速的盲元处理，并可以通过调节用于盲元判断时的预设阈值将视觉可见的盲元都检测出来，提高了红外图像的成像质量。

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