采集设备采样丢点测试方法和装置及系统

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专利状态

采集设备采样丢点测试方法和装置及系统

有效

专利申请进度

申请

2010-12-31

申请公布

2012-02-01

授权

2014-07-02

预估到期

2030-12-31

专利基础信息

申请号	CN201010617794.8	申请日	2010-12-31
申请公布号	CN102340313A	申请公布日	2012-02-01
授权公布号	CN102340313B	授权公告日	2014-07-02
分类号	H03M1/54;G01R23/16
分类	基本电子电路;
申请人名称	杭州百富电子技术有限公司
申请人地址	浙江省杭州经济技术开发区12号大街500号

专利法律状态

2014-07-02

授权

状态信息

授权
2012-03-28

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):H03M 1/54申请日:20101231
2012-02-01

公布

状态信息

公开
2012-01-11

文件的公告送达

状态信息

文件的公告送达IPC(主分类):H03M 1/54收件人:杭州百富电子技术有限公司鲍研李立等文件名称:视为未委托专利代理机构通知书
2012-01-11

文件的公告送达

状态信息

文件的公告送达IPC(主分类):H03M 1/54收件人:杭州百富电子技术有限公司鲍研李立等文件名称:补正通知书

摘要

本发明为一种采集设备采样丢点测试方法和装置及系统。该方法包括步骤：对信号源输出的单载波信号进行连续采样，得到多个采样点数据；将N个采样点分成N/M段，每段M个采样点；分别将各段中的采样点信号数据做快速傅氏变换，然后取绝对值，得到各段采样点数据的频谱集；以第p段信号频谱为基准，计算第p段的检测基准值集合；根据第p段的检测基准值集合，得到检测基准值的坐标分布图；判断第p段的检测基准值在坐标分布图上是否规律分布。其提高了测试效率，信号源简单，测试准确度高。

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