一种石膏原料中硫酸钙晶体相变点的检测方法

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专利状态

一种石膏原料中硫酸钙晶体相变点的检测方法

有效

专利申请进度

申请

2015-12-30

申请公布

2016-05-25

授权

2019-09-17

预估到期

2035-12-30

专利基础信息

申请号	CN201511025770.2	申请日	2015-12-30
申请公布号	CN105606639A	申请公布日	2016-05-25
授权公布号	CN105606639B	授权公告日	2019-09-17
分类号	G01N25/02
分类	测量；测试;
申请人名称	泰山石膏有限公司
申请人地址	山东省泰安市岱岳区大汶口

专利法律状态

2019-09-17

授权

状态信息

授权
2019-09-06

著录事项变更

状态信息

著录事项变更IPC(主分类):G01N 25/02变更前申请人:泰山石膏股份有限公司地址:271026 山东省泰安市大汶口泰山石膏工业园区泰山石膏股份有限公司变更后申请人:泰山石膏有限公司地址:271026 山东省泰安市岱岳区大汶口
2016-06-22

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01N 25/02申请日:20151230
2016-05-25

公布

状态信息

公开

摘要

本发明提供了一种石膏原料中硫酸钙晶体相变点的检测方法，包括以下步骤：a)将石膏原料粉磨过筛后，进行干燥，得到石膏粉；b)采用卤素水分测定仪在逐级提高的温度点下分别对上述石膏粉进行烘制，根据烘制前后石膏粉在不同温度点的质量变化进行计算，得到石膏原料中硫酸钙晶体相变点；所述逐级提高的温度点的最低温度为55℃～65℃，最高温度为175℃～185℃，相邻温度差为5℃～11℃。本发明提供的检测方法首先除去石膏原料中全部的游离水，得到石膏粉；再采用卤素水分测定仪进行烘制，得到上述石膏粉在不同温度烘制后的质量变化，进而得到石膏原料中硫酸钙晶体相变点，检测方法操作简单、周期短，同时受检测环境影响小，重现性好。

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