一种判断硅块质量的方法及装置

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专利状态

一种判断硅块质量的方法及装置

有效

专利申请进度

申请

2012-07-10

申请公布

2012-10-31

授权

2015-10-28

预估到期

2032-07-10

专利基础信息

申请号	CN201210237553.X	申请日	2012-07-10
申请公布号	CN102759695A	申请公布日	2012-10-31
授权公布号	CN102759695B	授权公告日	2015-10-28
分类号	G01R31/26;C30B28/06;C30B29/06
分类	测量；测试;
申请人名称	江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
申请人地址	江西省新余市高新经济开发区赛维工业园专利办公室

专利法律状态

2015-10-28

授权

状态信息

授权
2012-12-26

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20120710
2012-10-31

公布

状态信息

公开

摘要

本发明实施例公开了一种判断硅块质量的方法，包括：扫描硅块得到所述硅块的全少子寿命分布图；分析所述全少子寿命分布图得到所述硅块中低少子寿命所占的比例及从所述硅块头部到尾部的各个区间内低少子寿命的比例；根据所述硅块中低少子寿命所占的比例及从所述硅块头部到尾部的各个区间内低少子寿命的比例判断所述硅块的质量。本发明实施例还公开了一种判断硅块质量的装置。采用本发明，可以更准确地判断硅块的整体质量，有效地减少低效硅片的产出。

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