一种无快门的非均匀校正的方法

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专利状态

一种无快门的非均匀校正的方法

有效

专利申请进度

申请

2021-04-13

申请公布

2021-10-19

授权

2023-04-28

预估到期

2041-04-13

专利基础信息

申请号	CN202110393052.X	申请日	2021-04-13
申请公布号	CN113514155A	申请公布日	2021-10-19
授权公布号	CN113514155B	授权公告日	2023-04-28
分类号	G01J5/00;G01J5/53
分类	测量；测试;
申请人名称	武汉华中数控股份有限公司
申请人地址	湖北省武汉市东湖新技术开发区庙山小区华中科技大学科技园

专利法律状态

2023-04-28

授权

状态信息

授权
2021-11-05

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01J5/00；申请日:20210413
2021-10-19

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供了一种无快门的非均匀校正的方法，在探测器工作范围内，分别采集四个不同温度黑体的本底，连续十张本底求均值，去除时域噪声，保存本底。根据机芯的温度分别拟合四个不同温度黑体的本底，同时计算其均值，根据均值和像素值构建多段函数，原始图像经过导向滤波计算其均值，根据这个均值计算新本底，同时根据这个均值，判断计算增益所需的高温本底和低温本底。实时计算本底和增益，考虑了探测器温度和环境温度对红外图像非均匀校正的影响。本发明无需快门，不仅不会中断探测器工作过程，还能节约成本，同时能解决温漂问题，能够自适应的校正红外图像。

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