• 热门行业
  • 装修建材
  • 家居生活
  • 餐饮食品
  • 母婴教育
  • 电脑办公
  • 服装首饰
  • 汽车工具
  • 家电数码
  • 机械化工
  • 休闲美容
返回上一页
专利状态
测试用例分层存储方法、系统、电子设备及存储介质
有效
专利申请进度
申请
2020-11-25
申请公布
2021-02-09
授权
2022-10-21
预估到期
2040-11-25
专利基础信息
申请号 CN202011341058.4 申请日 2020-11-25
申请公布号 CN112346986A 申请公布日 2021-02-09
授权公布号 CN112346986B 授权公告日 2022-10-21
分类号 G06F11/36;G06F16/13
分类 计算;推算;计数;
申请人名称 武汉光庭信息技术股份有限公司
申请人地址 湖北省武汉市东湖开发区光谷软件园一期以西、南湖南路以南光谷软件园六期2幢8层208号
专利法律状态
  • 2022-10-21
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-02-09
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明实施例提供一种测试用例分层存储方法、系统、电子设备及存储介质,方法包括:将被测程序的功能模块的测试用例按照不同的功能存储于对应的不同文件中;根据不同场景对每一个文件分为N个一级目录,对于每一个一级目录,根据不同的前置条件分为S个二级目录;对于二级目录下的测试用例,对于不同阶段的测试用例,对每个文件中存储的测试用例按照不同的形式命名;在不同阶段执行测试用例时,根据不同阶段的需求,检索文件中对应的测试用例并执行。本发明实施例将被测程序的各个功能模块的测试用例进行分层存储,在不同的测试阶段,可按照不同的需求检索对应的测试用例,对于分层存储结构,检索效率高,进而提高了测试的效率。