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专利状态
垂直磁化MTJ器件及STT-MRAM
有效
专利申请进度
申请
2017-06-14
申请公布
2018-12-25
授权
2021-04-13
预估到期
2037-06-14
专利基础信息
申请号 CN201710447813.9 申请日 2017-06-14
申请公布号 CN109087995A 申请公布日 2018-12-25
授权公布号 CN109087995B 授权公告日 2021-04-13
分类号 H01L43/08;H01L43/12;H01L27/22
分类 基本电气元件;
申请人名称 中电海康集团有限公司
申请人地址 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311
专利法律状态
  • 2021-04-13
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-04-02
    专利申请权、专利权的转移
    状态信息
    专利申请权的转移;IPC(主分类):H01L 43/12;专利申请号:2017104478139;登记生效日:20210322;变更事项:申请人;变更前权利人:中电海康集团有限公司;变更后权利人:中电海康集团有限公司;变更事项:地址;变更前权利人:311121 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室;变更后权利人:311121 浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311;变更事项:申请人;变更前权利人:;变更后权利人:浙江驰拓科技有限公司
  • 2019-01-18
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):H01L 43/12;专利申请号:2017104478139;申请日:20170614
  • 2018-12-25
    发明专利申请公布
    状态信息
    公布
摘要
本申请提供了一种垂直磁化MTJ器件及STT‑MRAM。该垂直磁化MTJ器件包括依次叠置设置的参考层、绝缘势垒层、自由层、增强层、去磁耦合层以及固定层,其中,参考层与固定层的磁化方向相反,增强层用于增强自由层的垂直磁各向异性,去磁耦合层用于隔离自由层与固定层。降低了临界写入电流,降低了STT‑MRAM芯片的能耗,同时也提高了数据的写入速率,并且,固定层可以抵消参考层作用在自由层上的散磁场,避免不同位元之间的相互干扰;另外,垂直磁化MTJ器件中的增强层可以增强自由层的磁各向异性,进而提高自由层的热稳定性。