用于阻性存储单元的测试结构及耐久性测试方法

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专利状态

用于阻性存储单元的测试结构及耐久性测试方法

有效

专利申请进度

申请

2018-11-27

申请公布

2020-06-02

授权

2021-08-20

预估到期

2038-11-27

专利基础信息

申请号	CN201811424807.2	申请日	2018-11-27
申请公布号	CN111223518A	申请公布日	2020-06-02
授权公布号	CN111223518B	授权公告日	2021-08-20
分类号	G11C29/50
分类	信息存储;
申请人名称	中电海康集团有限公司
申请人地址	浙江省杭州市余杭区文一西路1500号1幢311室

专利法律状态

2021-08-20

授权

状态信息

授权
2020-06-26

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效 IPC（主分类）:G11C29/50
2020-06-02

公布

状态信息

公布

摘要

本发明提供一种用于阻性存储单元的测试结构及耐久性测试方法。所述测试结构包括：多个待测阻性存储单元，每个待测阻性存储单元分别连接有一个可控开关器件，每个待测阻性存储单元的第一连接端接于一点，共同连接至第一测试电极，每个待测阻性存储单元的第二连接端分别连接至对应的可控开关器件的第一连接端，每个可控开关器件的第二连接端接于一点，共同连接至第二测试电极，每个可控开关器件的控制端分别连接至各自的控制信号电极，其中，第一测试电极和第二测试电极用于输入读写信号，各控制信号电极用于输入可控开关器件的控制信号。本发明能够节省版图面积，提高测试效率，节省测试时间。

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