点源全息图测距装置及测距方法

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专利状态

点源全息图测距装置及测距方法

有效

专利申请进度

申请

2014-01-21

申请公布

2014-04-02

授权

2016-05-25

预估到期

2034-01-21

专利基础信息

申请号	CN201410025866.8	申请日	2014-01-21
申请公布号	CN103698768A	申请公布日	2014-04-02
授权公布号	CN103698768B	授权公告日	2016-05-25
分类号	G01S17/08
分类	测量；测试;
申请人名称	先临三维科技股份有限公司
申请人地址	浙江省杭州市萧山区闻堰街道湘滨路1398号

专利法律状态

2018-07-20

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

状态信息

专利权人的姓名或者名称、地址的变更；IPC(主分类):G01S17/08；变更事项:专利权人；变更前:杭州先临三维科技股份有限公司；变更后:先临三维科技股份有限公司；变更事项:地址；变更前:311215 浙江省杭州市萧山区经济技术开发区建设一路66号华瑞中心1号楼18层；变更后:311258 浙江省杭州市萧山区闻堰街道湘滨路1398号
2016-05-25

授权

状态信息

授权
2014-06-25

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01S17/08；申请日:20140121
2014-04-02

公布

状态信息

公布

摘要

本发明公开了一种点源全息图测距装置及测距方法，该装置沿着光路前进方向依次设置有半导体激光器（10）、平面反射镜（9）、测量点（1）、透镜（2）、线偏振片（3）、1/4波片（4）、双折射晶体（5）、线偏振片（6）、电子耦合器件（7）以及计算机处理系统（8），所述装置在线偏振片（3）与线偏振片（6）的光轴相互垂直时采集第一全息图，在二者的光轴相互平行时采集第二全息图，根据该第一全息图和第二全息图的差值处理得到测量点（1）的实际距离。本发明由于采用了共轴光路测量系统，可以大大增强系统的抗干扰性，具有稳定、高效率及不受被测表面特性影响的特点，可以达到1微米的测量精度，在工业领域具有广泛的应用前景。

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