集成电路输入端测试装置及集成电路

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专利状态

集成电路输入端测试装置及集成电路

有效

专利申请进度

申请

2018-02-07

申请公布

2019-08-13

授权

2021-08-03

预估到期

2038-02-07

专利基础信息

申请号	CN201810122634.2	申请日	2018-02-07
申请公布号	CN110118921A	申请公布日	2019-08-13
授权公布号	CN110118921B	授权公告日	2021-08-03
分类号	G01R31/28
分类	测量；测试;
申请人名称	龙芯中科技术股份有限公司
申请人地址	北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼

专利法律状态

2021-08-03

授权

状态信息

授权
2021-02-05

著录事项变更

状态信息

著录事项变更；IPC(主分类):G01R31/28；变更事项:申请人；变更前:龙芯中科技术有限公司；变更后:龙芯中科技术股份有限公司；变更事项:地址；变更前:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼；变更后:100095 北京市海淀区中关村环保科技示范园龙芯产业园2号楼
2019-09-06

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G01R31/28；申请日:20180207
2019-08-13

公布

状态信息

公布

摘要

本发明实施例提供一种集成电路输入端测试装置及集成电路，包括：输出选择单元、功能单元、测试逻辑组合单元以及多个待测试输入态引脚；测试逻辑组合单元和功能单元均包括多个输入端；多个待测试输入态引脚包括至少一个待测试双向引脚和/或至少一个待测试输入引脚；每个待测试输入态引脚分别与逻辑组合单元的一个输入端以及功能单元的一个输入端连接；多个待测试输入态引脚中的待测试双向引脚还与对应的状态选择单元连接；输出选择单元的第一输入端与测试逻辑组合单元的输出端连接，输出选择单元的第二输入端与功能单元的输出端连接；输出选择单元的输出端与输出引脚连接。用于提高集成电路输入端的测试效率。

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