分布式光度计测试系统_专利查询-品牌网

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专利状态

分布式光度计测试系统

有效

专利申请进度

申请

2018-06-28

授权

2019-01-15

预估到期

2028-06-28

专利基础信息

申请号	CN201821019562.0	申请日	2018-06-28
授权公布号	CN208383304U	授权公告日	2019-01-15
分类号	G01J1/00;G01J1/02;G01J1/04
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳天祥质量技术服务有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田街道五和大道北4012号元征科技工业园1号楼3、4、5层及1楼西侧半层和3号楼整栋1-5层

专利法律状态

2019-01-15

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型揭示了一种分布式光度计测试系统，包括：机架、光度探头和温控风控设备；机架设置于测试房间一侧墙边；光度探头包括第一光度探头，第一光度探头内设置有恒温控制装置，恒温控制装置用于控制第一光度探头内的整体温度；第一光度探头设置于机架上，在机架上与第一光度探头正对位置上设置有测试样托板，第一光度探头接收测试样托板上待测灯具的直射光，进行光度测试；温控风控设备设置于测试房间内且位于机架上方的天花，温控风控设备为水平侧出风口，出风口处设置有双层格网，格网为细密且紧凑的网孔结构，双层格网的每层格网能独立调节开口大小与出风的角度。通过设置有恒温控制装置和双层侧送风口，极大地提高了测试精度与测试效率。

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