一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统

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专利状态

一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统

有效

专利申请进度

申请

2018-05-23

申请公布

2018-10-19

授权

2022-04-05

预估到期

2038-05-23

专利基础信息

申请号	CN201810503034.0	申请日	2018-05-23
申请公布号	CN108682442A	申请公布日	2018-10-19
授权公布号	CN108682442B	授权公告日	2022-04-05
分类号	G11C29/56
分类	信息存储;
申请人名称	置富科技（深圳）股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市龙岗区坂田街道吉华路龙璧工业城13#2层

专利法律状态

2022-04-05

授权

状态信息

授权
2021-08-06

专利申请权、专利权的转移

状态信息

专利申请权的转移；IPC(主分类):G11C 29/56；专利申请号:2018105030340；登记生效日:20210723；变更事项:申请人；变更前权利人:武汉忆数存储技术有限公司；变更后权利人:置富科技(深圳)股份有限公司；变更事项:地址；变更前权利人:430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区关山一路1号华中曙光软件园蓝域·商界2号楼3层304-5；变更后权利人:518000 广东省深圳市龙岗区坂田街道吉华路龙璧工业城13#2层；变更事项:申请人；变更前权利人:华中科技大学；变更后权利人:
2018-11-13

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G11C 29/56；专利申请号:2018105030340；申请日:20180523
2018-10-19

发明专利申请公布

状态信息

公布

摘要

本发明涉及一种不同封装闪存芯片在线测试和分类方法及测试系统，该方法包括将测试芯片与测试系统连接，以块为单位选择该测试芯片所要测试的块，并根据闪存芯片的封装不同，选择相应的测试图形测试闪存芯片物理量信息，并将测试数据实时保存；利用寿命预测算法，根据闪存芯片物理量信息预测闪存芯片的剩余寿命；对所述闪存芯片物理量信息进行处理获得进阶数据；根据闪存芯片物理量信息、剩余寿命、进阶数据，单独或者组合判断筛选闪存芯片，对闪存芯片进行分类。通过本发明，针对不同类型的闪存芯片，采用相应测试图形（pattern）进行测试，实现对不同封装、不同型号的闪存芯片的测试；且通过对闪存芯片存储块进行分级，根据存储块的分级实现对闪存芯片的分级，获得更准确，更贴合实际数据的闪存芯片分类方法。

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