老化测试设备及其加热组件

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专利状态

老化测试设备及其加热组件

有效

专利申请进度

申请

2020-05-28

授权

2021-03-05

预估到期

2030-05-28

专利基础信息

申请号	CN202020939037.1	申请日	2020-05-28
授权公布号	CN212658771U	授权公告日	2021-03-05
分类号	G01R31/00;H05B3/14
分类	测量；测试;
申请人名称	深圳市江波龙电子股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1

专利法律状态

2021-03-05

授权

状态信息

授权

摘要

本实用新型公开一种老化测试设备及其加热组件，该加热组件包括控制板、发热件和传热件，控制板上设有控制线路；发热件与控制板电连接，发热件用于在控制板的控制下发热；传热件与发热件接触并能够与发热件进行热传导，传热件用于与待测芯片接触，以加热待测芯片。通过设置能够与发热件进行热传导的传热件，可以使用传热件抵接待测芯片以对待测芯片进行加热，相比于现有的高温老化测试设备，本申请中的加热组件可以很好的与现有的常温测试用底座兼容，故而，可以节约成本，并可以节约空间，同时也可以提升待测芯片的检测效率，并且本申请中的发热件的热量直接作用于待测芯片，热量的利用率高，且发热件所需的功率较小，可以极大得节省检测成本。

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