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专利状态

DRAM测试装置及方法

有效

专利申请进度

申请

2017-08-29

申请公布

2018-02-09

授权

2022-05-27

预估到期

2037-08-29

专利基础信息

申请号	CN201710754549.3	申请日	2017-08-29
申请公布号	CN107680633A	申请公布日	2018-02-09
授权公布号	CN107680633B	授权公告日	2022-05-27
分类号	G11C29/56
分类	信息存储;
申请人名称	深圳市江波龙电子股份有限公司
申请人地址	广东省深圳市南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1

专利法律状态

2022-05-27

授权

状态信息

授权
2018-02-09

公布

状态信息

公布

摘要

一种DRAM测试装置，包括用于插接待测试DRAM的测试架、用于存储测试程序的程序储存模块、电流测试模块以及测试控制模块，所述测试控制模块接收测试开关命令对待测试DRAM进行电流测试和功能测试并上传测试结果，通过设置测试控制模块，读取预存的测试程序对DRAM完成功能测试，也可以控制电流测试模块对DRAM加载电压进行电流测试，通过设置低成本的独立模块对DRAM进行测试，将不良品挑选出来，达到最大的使用效率。

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